衍射儀附件
X射線探測(cè)器系列化
X射線探測(cè)器系列化
線性探測(cè)器
正比探測(cè)器、閃爍探測(cè)器
使用時(shí)需要配置單色器，有效去掉Kβ線。
最大線性計(jì)數(shù)：≥5×105CPS
能譜分辨率：正比≤25%、閃爍≤50%。
SDD硅漂移探測(cè)器
探測(cè)器型號(hào)是：MYTHEN2 1D detector 由瑞士 DECTRIS Ltd.生產(chǎn)。
DX系列衍射儀配置MYTHEN2 1D detector后可以選擇使用0D或是1D測(cè)量方式，0D測(cè)量方式滿足低角度（0°開(kāi)始）測(cè)量需求，1D測(cè)量方式實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品快速（36°/分）測(cè)量。
半導(dǎo)體線陣探測(cè)器
由640個(gè)探測(cè)器組成的一維半導(dǎo)體陳列探測(cè)器，相比傳統(tǒng)的閃爍或正比探測(cè)器可以提高衍射強(qiáng)度120倍以上，在較短時(shí)間內(nèi)，獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖，并且還有非常好的去熒光能力，即使是測(cè)量強(qiáng)熒光的樣品，一維半導(dǎo)體陳列探測(cè)器提供的數(shù)據(jù)也展示出非常好的信噪比。
最大線性計(jì)數(shù)：≥9×109CPS，能譜分辨率：≤25%；有高計(jì)數(shù)模式及去除熒光背景兩種工作模式。
高速陣列探測(cè)器
探測(cè)器型號(hào)是： MiniPIX 60K 由捷克航空實(shí)驗(yàn)室制作，有效面積14×14mm、像素尺寸55μm、像素?cái)?shù)量256×256、每個(gè)像素線性計(jì)數(shù)值3×106。
DX系列衍射儀配置MiniPIX 60K后可以選擇使用0D或是1D或是2D測(cè)量方式，0D測(cè)量方式滿足低角度（0°開(kāi)始）測(cè)量需求；1D測(cè)量方式實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品快速（36°/分）測(cè)量；2D測(cè)量方式用拍照方法獲取2θ角3度范圍衍射環(huán)，直觀觀察到晶面取向的信息。
半導(dǎo)體陣列探測(cè)器Si樣品衍射譜圖
DX系列衍射儀可以同時(shí)配置多種探測(cè)器，由衍射儀控制軟件選擇使用。
